電鏡檢測技術(shù)服務(wù)承諾守信「多圖」[科銳諾]內(nèi)容：透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。TEM的分辨力可達(dá)0.2nm。
早期電鏡中曾采用過機(jī)械式消像散器，利用手動機(jī)械裝置來調(diào)整電磁透鏡周圍的小磁鐵 組成的消像散器，來改變透鏡磁場分布的缺陷。但由于調(diào)整的性和使用的方便性均難令人滿意，這種方式已被淘汰。消像散器由圍繞光軸對稱環(huán)狀均勻分布的8個小電磁線圈構(gòu)成，用以消除（或減小）電磁透鏡因材料、加工、污染等因素造成的像散。其中每4個互相垂直的線圈為1組，在任一直徑方向上的2個線圈產(chǎn)生的磁場方向相反，用2組控制電路來分別調(diào)節(jié)這2組線圈中的直流電流的大小和方向，即能產(chǎn)生1個強(qiáng)度和方向可變的合成磁場，以補(bǔ)償透鏡中所原有的不均勻磁場缺陷（圖中橢圓形實(shí)線），以達(dá)到消除或降低軸上像散的效果。
掃描電鏡雖然是顯微鏡家族中的后起之秀，但由于其本身具有許多的優(yōu)點(diǎn)，發(fā)展速度是很快的。
1 儀器分辨率較高，通過二次電子像能夠觀察試樣表面6nm左右的細(xì)節(jié)，采用LaB6電子，可以進(jìn)一步提高到3nm。
2 儀器放大倍數(shù)變化范圍大，且能連續(xù)可調(diào)。因此可以根據(jù)需要選擇大小不同的視場進(jìn)行觀察，同時在高放大倍數(shù)下也可獲得一般透射電鏡較難達(dá)到的高亮度的清晰圖像。
以上信息由專業(yè)從事電鏡檢測技術(shù)服務(wù)的科銳諾于2025/1/6 16:22:57發(fā)布
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